Journal Of Instrumentation
Publication date:
2023-04-01
Volume:
18
Publisher:
IOP Publishing Ltd
Author:
Abbasi, R
Ackermann, M ; Adams, J ; Aggarwal, N ; Aguilar, JA ; Ahlers, M ; Alameddine, JM ; Alves, AA ; Amin, NM ; Andeen, K ; Anderson, T ; Anton, G ; Arguelles, C ; Ashida, Y ; Athanasiadou, S ; Axani, SN ; Bai, X ; Balagopal, A ; Baricevic, M ; Barwick, SW ; Basu, V ; Bay, R ; Beatty, JJ ; Becker, K-H ; Tjus, J Becker ; Beise, J ; Bellenghi, C ; BenZvi, S ; Berley, D ; Bernardini, E ; Besson, DZ ; Binder, G ; Bindig, D ; Blaufuss, E ; Blot, S ; Bontempo, F ; Book, JY ; Borowka, J ; Meneguolo, C Boscolo ; Boser, S ; Botner, O ; Bottcher, J ; Bourbeau, E ; Braun, J ; Brinson, B ; Brostean-Kaiser, J ; Burley, RT ; Busse, RS ; Campana, MA ; Carnie-Bronca, EG ; Chen, C ; Chen, Z ; Chirkin, D ; Choi, S ; Clark, BA ; Classen, L ; Coleman, A ; Collin, GH ; Connolly, A ; Conrad, JM ; Coppin, P ; Correa, P ; Countryman, S ; Cowen, DF ; Dappen, C ; Dave, P ; De Clercq, C ; DeLaunay, JJ ; Lopez, D Delgado ; Dembinski, H ; Deoskar, K ; Desai, A ; Desiati, P ; de Vries, KD ; de Wasseige, G ; DeYoung, T ; Diaz, A ; Diaz-Velez, JC ; Dittmer, M ; Dujmovic, H ; DuVernois, MA ; Ehrhardt, T ; Eller, P ; Engel, R ; Erpenbeck, H ; Evans, J ; Evenson, PA ; Fan, KL ; Fazely, AR ; Fedynitch, A ; Feigl, N ; Fiedlschuster, S ; Fienberg, AT ; Finley, C ; Fischer, L ; Fox, D ; Franckowiak, A ; Friedman, E ; Fritz, A ; Furst, P ; Gaisser, TK ; Gallagher, J ; Ganster, E ; Garcia, A ; Garrappa, S ; Gerhardt, L ; Ghadimi, A ; Glaser, C ; Glauch, T ; Glusenkamp, T ; Goehlke, N ; Gonzalez, JG ; Goswami, S ; Grant, D ; Gray, SJ ; Gregoire, T ; Griffin, S ; Griswold, S ; Gunther, C ; Gutjahr, P ; Haack, C ; Hallgren, A ; Halliday, R ; Halve, L ; Halzen, F ; Hamdaoui, H ; Minh, M Ha ; Hanson, K ; Hardin, J ; Harnisch, AA ; Hatch, P ; Haungs, A ; Helbing, K ; Hellrung, J ; Henningsen, F ; Heuermann, L ; Hickford, S ; Hidvegi, A ; Hill, C ; Hill, GC ; Hoffman, KD ; Hoshina, K ; Hou, W ; Huber, T ; Hultqvist, K ; Hunnefeld, M ; Hussain, R ; Hymon, K ; In, S ; Iovine, N ; Ishihara, A ; Jansson, M ; Japaridze, GS ; Jeong, M ; Jin, M ; Jones, BJP ; Kang, D ; Kang, W ; Kang, X ; Kappes, A ; Kappesser, D ; Kardum, L ; Karg, T ; Karl, M ; Karle, A ; Katz, U ; Kauer, M ; Kelley, JL ; Kheirandish, A ; Kin, K ; Kiryluk, J ; Klein, SR ; Kochocki, A ; Koirala, R ; Kolanoski, H ; Kontrimas, T ; Kopke, L ; Kopper, C ; Koskinen, DJ ; Koundal, P ; Kovacevich, M ; Kowalski, M ; Kozynets, T ; Kruiswijk, K ; Krupczak, E ; Kumar, A ; Kun, E ; Kurahashi, N ; Lad, N ; Gualda, C Lagunas ; Lamoureux, M ; Larson, MJ ; Lauber, F ; Lazar, JP ; Lee, JW ; DeHolton, K Leonard ; Leszczynska, A ; Lincetto, M ; Liu, QR ; Liubarska, M ; Lohfink, E ; Love, C ; Mariscal, CJ Lozano ; Lu, L ; Lucarelli, F ; Ludwig, A ; Luszczak, W ; Lyu, Y ; Ma, WY ; Madsen, J ; Mahn, KBM ; Makino, Y ; Mancina, S ; Sainte, W Marie ; Maris, IC ; Marka, S ; Marka, Z ; Marsee, M ; Martinez-Soler, I ; Maruyama, R ; Mayhew, F ; McElroy, T ; McNally, F ; Mead, JV ; Meagher, K ; Mechbal, S ; Medina, A ; Meier, M ; Meighen-Berger, S ; Merckx, Y ; Merten, L ; Meures, T ; Micallef, J ; Mockler, D ; Montaruli, T ; Moore, RW ; Morii, Y ; Morse, R ; Moulai, M ; Mukherjee, T ; Naab, R ; Nagai, R ; Naumann, U ; Nayerhoda, A ; Necker, J ; Neumann, M ; Niederhausen, H ; Nisa, MU ; Noell, A ; Nowicki, SC ; Pollmann, A Obertacke ; Oehler, M ; Oeyen, B ; Olivas, A ; Orsoe, R ; Osborn, J ; O'Sullivan, E ; Pandya, H ; Pankova, DV ; Park, N ; Parker, GK ; Paudel, EN ; Paul, L ; de los Heros, C Perez ; Peterson, J ; Philippen, S ; Pieper, S ; Pizzuto, A ; Plum, M ; Popovych, Y ; Rodriguez, M Prado ; Pries, B ; Procter-Murphy, R ; Przybylski, GT ; Raab, C ; Rack-Helleis, J ; Rawlins, K ; Rechav, Z ; Rehman, A ; Reichherzer, P ; Renzi, G ; Resconi, E ; Reusch, S ; Rhode, W ; Richman, M ; Riedel, B ; Roberts, EJ ; Robertson, S ; Rodan, S ; Roellinghoff, G ; Rongen, M ; Rott, C ; Ruhe, T ; Ruohan, L ; Ryckbosch, D ; Cantu, D Rysewyk ; Athanasiadou, S ; Safa, I ; Saffer, J ; Salazar-Gallegos, D ; Sampathkumar, P ; Herrera, SE Sanchez ; Sandrock, A ; Sandstrom, P ; Santander, M ; Sarkar, S ; Sarkar, S ; Savelberg, J ; Savina, P ; Schaufel, M ; Schieler, H ; Schindler, S ; Schluter, B ; Schmidt, T ; Schneider, J ; Schroder, FG ; Schumacher, L ; Schwefer, G ; Sclafani, S ; Seckel, D ; Seunarine, S ; Sharma, A ; Shefali, S ; Shimizu, N ; Shimizu, S ; Silva, M ; Skrzypek, B ; Smithers, B ; Snihur, R ; Soedingrekso, J ; Sogaard, A ; Soldin, D ; Spannfellner, C ; Spiczak, GM ; Spiering, C ; Stamatikos, M ; Stanev, T ; Stein, R ; Stezelberger, T ; Sturwald, T ; Stuttard, T ; Sulanke, KH ; Sullivan, GW ; Taboada, I ; Ter-Antonyan, S ; Thompson, WG ; Thwaites, J ; Tilav, S ; Tollefson, K ; Tonnis, C ; Toscano, S ; Tosi, D ; Trettin, A ; Tung, CF ; Turcotte, R ; Twagirayezu, JP ; Ty, B ; Elorrieta, MA Unland ; Upshaw, K ; Valtonen-Mattila, N ; Vandenbroucke, J ; van Eijndhoven, N ; Vannerom, D ; van Santen, J ; Vara, J ; Veitch-Michaelis, J ; Verpoest, S ; Veske, D ; Walck, C ; Watson, TB ; Weaver, C ; Weber, J ; Weigel, P ; Weindl, A ; Weldert, J ; Wendt, C ; Werthebach, J ; Weyrauch, M ; Whitehorn, N ; Wiebusch, CH ; Willey, N ; Williams, DR ; Wisher, I ; Wolf, M ; Wrede, G ; Wulff, J ; Xu, XW ; Yanez, JP ; Yildizci, E ; Yoshida, S ; Yu, S ; Yuan, T ; Zhang, Z ; Zhelnin, P
Keywords:
CALIBRATION, Cherenkov detectors, Detectors for UV, Instruments & Instrumentation, Neutrino detectors, Science & Technology, Technology, visible and IR photons, 02 Physical Sciences, 09 Engineering, Nuclear & Particles Physics, 40 Engineering, 51 Physical sciences